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合作项目组
主要参数
| SN 520 | 型号 | SN 520 |
|---|---|---|
| 固态硬盘 | 产品类型 | 固态硬盘 |
| 512G | 容量 | 128G |
| DRAM LPDDR3 | 缓存类型 | DRAM LPDDR3 |
| 缓存容量 | ||
| 3D NAND TLC | 闪存类型 | 3D NAND TLC |
| 主控芯片 | ||
| 颗粒 | 西部数据64层3D闪存 | |
| 1700MB/s | 连续读取最大速度 | 1500MB/s |
| 1400MB/s | 连续写入最大速度 | 800MB/s |
| 板卡式固态硬盘 | 硬盘尺寸 | 板卡式固态硬盘 |
| M.2 2230,M.2 2242,M.2 2280 | 接口类型 | M.2 2230,M.2 2242,M.2 2280 |
| 环境功耗 |
其他参数
| 平均无故障时间 | ||
|---|---|---|
| 4K随机读取 | ||
| 4K随机写入 | ||
| 270000IOPS | IOPS读取 | 95000IOPS |
| 280000IOPS | IOPS写入 | 90000IOPS |
| 支持 | NVMe | 支持 |
| 支持 | TRIM功能 | 支持 |
| 输入电压 | ||
| 外观尺寸 | ||
| 重量 | ||
| 0-70℃ | 工作温度 | 0-70℃ |
| -40-85℃ | 存储温度 | -40-85℃ |
| 保修 | ||
| 接口：NVME Gen3×2 耐久性测试:300 TBW |
其它性能 | 接口：NVME Gen3×2 耐久性测试:100 TBW |
| 鲁大师跑分 |